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手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)

更新時(shí)間:2021-04-08      點(diǎn)擊次數(shù):1410
   手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù),可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素, 同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來,XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。
  手持式合金分析儀特點(diǎn):
  ■真正實(shí)現(xiàn)在現(xiàn)場對被檢材料進(jìn)行*無損的快速檢測
  ■儀器無需外接PDA.一體化程度更高,抗電腦病毒、防塵防水能力強(qiáng),操作便捷
  ■可選購藍(lán)牙(Bluetooth)附件實(shí)現(xiàn)與計(jì)算機(jī)的無線通訊
  ■隨機(jī)配置NDT軟件,可進(jìn)行數(shù)據(jù)上傳或下載,可編輯、輸出分析報(bào)告,可實(shí)現(xiàn)PC機(jī)遠(yuǎn)程控制
  ■自動存儲多達(dá)3000點(diǎn)的分析數(shù)據(jù)及譜圖
  ■XLt系列不含放射性同位素激勵源
  ■XLp/XLi系列Infiniton無限壽命源型無需換源
  ■儀器外型優(yōu)雅,握在手中很舒適
  ■高強(qiáng)度、高密封性設(shè)計(jì),防濺水、抗沖擊性好
  ■采用尼通技術(shù)的高速電子部件,延長了電池工作時(shí)間,通常滿充電后,可輕松完成2000點(diǎn)(10秒/點(diǎn))以上的測試
  手持式合金分析儀在XRF分析法中,從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí),原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定,外層L層或M層的電子會進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過程中,它們會釋放出能量,我們稱之為二次X射線光子。
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